Microscopios de fuerza atómica
Los Microscopios de fuerza atómica (AFM) sirven para medir la topografía de una superficie a escala micrométrica a nanométrica. Esta técnica también se ha ampliado para permitir la medición de muchas otras propiedades de la superficie.
AFM Dimensión XR
Proporciona el conjunto completo de capacidades necesarias para caracterizar de forma rápida y cuantitativa los materiales por sus características nanomecánicas, en muestras que van desde hidrogeles pegajosos blandos y compuestos hasta metales y cerámicas rígidos.
La solución combinada XR Nanomechanics abarca la evolución completa de las técnicas de medición nanomecánica AFM a nanoescala, incluido el nuevo y revolucionario análisis de medición nano-dinámico AFM de Bruker.
AFM Icono de Dimensión
Consiga una ganancia de velocidad 4X para muestras con rugosidad nm con la opción de escaneo adaptativo. Caracterización viscoelástica a nanoescala con alta confianza. Investigación eléctrica sobre muestras previamente imposibles. Este sistema ha sido diseñado de arriba a abajo para ofrecer la revolucionaria baja desviación y bajo ruido que permite a los usuarios lograr imágenes sin artefactos en minutos en lugar de horas.
MULTIMODE 8-HR
El módulo PeakForce-HR ofrece imágenes de toma de pico PeakForce en el aire 6 veces más rápidas en comparación con la mayoría de los AFM convencionales, sin pérdida de rendimiento. Emprenda estudios viscoelásticos con el rango de frecuencia más amplio disponible en cualquier AFM, desde frecuencias de 0.1 Hz a 4 kHz. Además, permite a los investigadores crear de forma rutinaria las imágenes más detalladas sobre estructuras moleculares y biológicas, como proteínas o doble hélice de ADN.
NanoWizard AFM
El NanoWizard® es el AFM de gama alta más flexible del mercado. Establece el punto de referencia en resolución, velocidad y estabilidad, en particular para aplicaciones de fluidos. Todos los sistemas NanoWizard® proporcionan una verdadera integración de AFM con microscopía óptica por medio de nuestra característica patentada DirectOverlay™ para un trabajo preciso y fácil, y viene con una gran variedad de opciones y accesorios. Además, la familia NanoWizard® viene con el modo QI™ , un modo de imagen fácil e intuitivo para imágenes cuantitativas.
AFM Dimension FastScan Pro
El control más preciso de la muestra de la sonda permite la gama más amplia de tipos de muestras, desde polímeros blandos, películas delgadas y muestras eléctricas hasta materiales muy duros.
La topografía AFM de mayor resolución logra una metrología de pasos nanométricos con resolución de Angstroms. Además, las sondas industriales Bruker y PeakForce Tapping permiten la metrología de profundidad de alta relación de aspecto no disponible con otros sistemas de esta clase.
Microscopio óptico 3D ContourGT-K
El microscopio óptico 3D ContourGT-K es el estándar en capacidad y valor para perfiladores de superficies. Con una variedad de medidas 2D / 3D, imágenes de alta resolución y una interfaz fácil de usar, el sistema ofrece metrología sin compromisos en un paquete simplificado con una huella compacta.
ContourGT-K es el sistema de medición ideal para laboratorios con metrología básica y necesidades de imagen.