Perfiladores ópticos 3D y perfilómetros de aguja
Los Perfiladores ópticos 3D y perfilómetros de aguja de aguja de Bruker, son la culminación de diez generaciones de avances de la tecnología Wyko® patentada que brindan la alta sensibilidad y estabilidad necesarias para mediciones de superficies 3D de precisión en aplicaciones y entornos que son un desafío para otros sistemas de metrología.
ContourX-100
El perfilómetro óptico ContourX-100 establece un nuevo punto de referencia para la metrología de superficie sin contacto precisa y repetible al mejor precio de su clase. El sistema de tamaño reducido ofrece capacidades de medición de alta resolución 2D / 3D sin concesiones en un paquete optimizado que incorpora décadas de innovación patentada de interferometría de luz blanca (WLI) de Bruker. Las mejoras de próxima generación incluyen una nueva cámara de 5 MP y un escenario actualizado para mayores capacidades de costura, y un nuevo modo de medición, USI, para una mayor comodidad y flexibilidad para superficies maquinadas con precisión, películas gruesas y aplicaciones de tribología. No encontrará un sistema de sobremesa con mejor valor que el ContourX-100.
ContourX-200
El perfilómetro óptico ContourX-200 proporciona la combinación perfecta de caracterización avanzada, opciones personalizables y facilidad de uso para la mejor metrología de superficie 3D sin contacto, rápida, precisa y repetible de su clase. El sistema de huella pequeña con capacidad de medición ofrece capacidades de medición de alta resolución 2D / 3D sin concesiones utilizando una cámara digital FOV 5 MP más grande y una nueva etapa XY motorizada. Con una resolución y precisión inigualables en el eje Z, el ContourX-200 ofrece todas las ventajas reconocidas en la industria de la tecnología patentada de interferometría de luz blanca (WLI) de Bruker sin las limitaciones de los microscopios confocales convencionales y los perfiladores ópticos estándar de la competencia.
ContourX-500
El perfilómetro óptico ContourX-500 es el sistema de sobremesa automatizado más completo del mundo para la metrología de superficie 3D rápida y sin contacto. El ContourX-500 con capacidad de medición cuenta con una resolución y precisión inigualables en el eje Z, y proporciona todas las ventajas reconocidas en la industria de los modelos de suelo de interferometría de luz blanca (WLI) de Bruker en un espacio mucho más pequeño. El perfilador se personaliza fácilmente para la más amplia gama de aplicaciones complejas, desde metrología QA / QC de superficies mecanizadas de precisión y procesos de semiconductores hasta caracterización de I + D para dispositivos oftálmicos y MEMS.
ContourGT-X
El perfilador óptico ContourGT-X 3D proporciona las mediciones de superficie sin contacto de mayor rendimiento para la investigación de laboratorio y el control de procesos de producción. Al incorporar diez generaciones de innovación y diseño de interferometría de luz blanca (WLI), este sistema de metrología ofrece la resolución vertical más alta en el campo de visión más grande de la industria. Las características clave incluyen automatización completa y una interfaz de producción, una gran platina XYZ motorizada, inclinación / inclinación en el cabezal y una mesa de aislamiento de aire integral. Diseñado desde cero para las necesidades más exigentes de I + D, garantía de calidad y control de calidad de procesos, el ContourGT-X ofrece lo último en precisión óptica y robustez 3D con capacidad de medición.
Contour Elite X
El perfilador óptico Contour Elite X 3D de muestra grande, completamente automatizado, combina capacidades de medición inigualables con la resolución vertical más alta en el campo de visión más grande de la industria e imágenes en color o monocromáticas de alta fidelidad. Ningún otro sistema de metrología proporciona la precisión sin contacto, el rendimiento, la conveniencia del operador y las capacidades de generación de imágenes para abordar una gama tan amplia de aplicaciones de metrología de producción. Diseñado desde cero para las necesidades más exigentes de I + D, garantía de calidad y control de calidad de procesos, el Contour Elite X ofrece la solución de perfilado óptico 3D con capacidad de medición definitiva.
ContourSP
Al incorporar más de diez años de experiencia en caracterización óptica de empaques, el sistema de metrología de panel grande ContourSP duplica con creces el rendimiento de medición de sustratos de PCB de interconexión de alta densidad (HDI-PCB) en comparación con los instrumentos WLI de la generación anterior. El sistema está diseñado específicamente para medir cada capa de los paneles de PCB durante la fabricación e incorpora una serie de características avanzadas que brindan el máximo rendimiento de producción, conveniencia, confiabilidad y rendimiento para la industria del empaque de semiconductores. ContourSP con capacidad de medición utiliza una interfaz de producción intuitiva que ofrece una alineación fiducial rápida y fácil con la entrada configurable del usuario.
HD9800+
El sistema de perfilado de superficies de gran formato HD9800 + 3D es el perfilador óptico más avanzado del mundo para metrología deslizante de almacenamiento de datos en línea. El sistema combina la tecnología de caracterización óptica con capacidad de medición con automatización avanzada para permitir un rendimiento optimizado de medición de planitud y PTR. HD9800 + incorpora décadas de experiencia en metrología industrial de alta definición utilizando interferometría de luz blanca (WLI), autocalibración, iluminación LED de alta intensidad, software fácil de usar y una serie de otras características para proporcionar un rendimiento robusto, de alta resolución y no destructivo. que los fabricantes de almacenamiento de datos necesitan para mejorar la calidad del proceso y aumentar el rendimiento.
NPFLEX
El sistema de metrología NPFLEX 3D ofrece la caracterización de superficies de área 3D sin contacto más flexible para muestras tan grandes como los implantes médicos ortopédicos y las piezas más grandes en las industrias aeroespacial, automotriz y de mecanizado de precisión. Proporciona densidad, resolución y repetibilidad de datos más allá de lo que es posible con la instrumentación de contacto, lo que la hace ideal como tecnología complementaria o como solución de metrología independiente.