Espectrometría de Masas de Iones Secundarios

La técnica SIMS proporciona una combinación única de sensibilidad extremadamente alta para todos los elementos, desde hidrógeno hasta uranio y superiores (límite de detección hasta el nivel de ppb para muchos elementos), imágenes de alta resolución lateral (hasta 40 nm) y un fondo muy bajo que permite Alto rango dinámico (más de 5 décadas).

Herramienta SIMS Versátil: Sensibilida de detección de referencia con alto rendimiento y automatización completa

El IMS 7f-Auto es la versión más reciente de nuestra exitosa línea de productos de Espectrómetro de masa de iones secundarios (SIMS) IMS xf. Diseñado para entregar análisis elementales e isotópicos de alta precisión con mayor facilidad de uso y productividad, ha sido optimizado para aplicaciones desafiantes como cristal, metales, cerámica, dispositivos basados en Si, III-V y II-VI, materiales a granel, películas delgadas … que cumplen los requisitos de la industria para el desarrollo eficiente de dispositivos y el control de procesos.

SIMS Compacto y de alto rendimiento para laboratorios de Geociencias:

El IMS 7f-GEO es un modelo SIMS de colección única específicamente diseñado para realizar mediciones de alta precisión/alto rendimiento en muestras geológicas, es decir, isótopos estables, REE (elementos de tierras raras), elementos traza… También se usa para el análisis de ciencias de los materiales y estudios ambientales.

Microsonda de Iones de gran geometría para Geociencias:

El IMS 1300-HR³ es una microsonda de iones de gran geometría que ofrece un rendimiento analítico inigualable para una amplia gama de aplicaciones geocientíficas: seguimiento de procesos geológicos utilizando isótopos estables, minerales de datación, determinación de la presencia y distribución de elementos traza. Su alta sensibilidad y alta resolución lateral también la convierten en la herramienta de elección para buscar y medir partículas de uranio con fines de protección nuclear.

Perfilado de profundidad de adulterante de SIMS:

El SIMS 4550 de CAMECA ofrece capacidades extendidas para el perfilado de profundidad ultra superficial, elementos traza y mediciones de composición de capas delgadas en Si, alto-k, SiGe y otros materiales compuestos como III-V para dispositivos ópticos.

Microsonda de Iones especializado para la investigación de geocronología líder en el mundo:

Basado en la nueva generación de microsondas de iones de IMS 1300-HR³ de gran geometría y de sensibilidad ultra alta, KLEORA proporciona una sensibilidad de referencia para los análisis isotópicos de U-Th-Pb in-situ en una plataforma de alto rendimiento y fácil de usar.

Espectrometría de Masas de Iones Secundarios

Herramienta SIMS Versátil: Sensibilida de detección de referencia con alto rendimiento y automatización completa

SIMS Compacto y de alto rendimiento para laboratorios de Geociencias:

Microsonda de Iones de gran geometría para Geociencias:

Perfilado de profundidad de adulterante de SIMS:

Microsonda de Iones especializado para la investigación de geocronología líder en el mundo:

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