Difracción de Rayos X

La Difracción de Rayos X es un método utilizado para explorar la estructura cristalina de la materia. Una de las herramientas no-destructivas más importantes para analizar tanto líquidos como polvos y cristales. El XRD es un método indispensable en el campo de la cristalografía para caracterización de materiales y control de calidad. La línea de productos de difracción de rayos X de Bruker ofrece un análisis detallado de cualquier material, desde la investigación fundamental hasta el control de calidad industrial, proporcionando soluciones del futuro a los clientes de hoy.

Difracción de Rayos X

D2 PHASER

D2 PHASER, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales diseñado para realizar análisis cualitativos y cuantitativos de materiales policristalinos. El D2 PHASER no requiere un intercambiador de calor externo, lo que permite transportarlo fácilmente al lugar que se desee. Hay un computador integrado sin la necesidad de un externo y trabaja con los detectores LYNXEYE, más de 200 veces más rápido que un detector de centello y hace la supresión de la fluorescencia de Hierro sin la necesidad de monocromador secundario.

Difractometro de Rayos X de Mesa BRUKER D2 PHASER:

D8 ADVANCE

El D8 ADVANCE es el real quick-change que se puede configurar para llevar a cabo un trabajo de análisis sencillo con componentes y componentes, o bien con una característica multifuncional.

Este difractómetro incorpora un sistema de propulsión de alta resolución con la posibilidad de trabajar sin la necesidad de chiller; cambio de geometrías sin la necesidad de cambios de accesorios (espejo Goebel, rendijas motorizadas, etc.) OPTICA TRIO-TWIN; cámaras de temperatura (-180O hasta 2300º C); accesorios para textura, estresse y tensión residual; accesorios para SAXS y Microdifracción.

Difractometro de Rayos X de Mesa BRUKER D2 PHASER:

D8 Discover

La familia D8 Discover es la plataforma de difracción de rayos X más precisa, flexible y potente del mercado. Gracias a diseño DAVINCI, cada D8 DISCOVER se puede personalizar con la última tecnología incluyendo fuentes de Rayos X de alto rendimiento , opticas especializadas, sample stages dedicados y los detectores más avanzados y rápidos. La D8 DISCOVER se puede equiparcomc omponentes multi-propósito eliminando la necesidad de desperdicios de tiempo y de reconfiguración. El D8 DISCOVER también está disponible como una solución ideal para un rendimiento máximo para un análisis de tareas específicas.

Difractometro de Rayos X de Mesa BRUKER D2 PHASER:

D8 ENDEAVOR

El D8 ENDEAVOUR está hecho para una operación extremadamente simple, alta velocidad de medición en los límites de detección más bajos y rápida entrega de muestras. El sistema es muy adecuado para la operación de múltiples usuarios en la industria, la academia y la investigación. Para la optimización de procesos industriales y el control de calidad, el D8 ENDEAVOUR se puede conectar a sistemas automatizados de preparación de muestras, que alimentan las muestras sin más acciones del operador. Esto garantiza la máxima integridad, homogeneidad y calidad de la preparación y presentación de las muestras.

Difractometro de Rayos X de Mesa BRUKER D2 PHASER:

N8 HORIZON:

El nuevo N8 HORIZON cuenta con una configuración vertical, innovadora, que ofrece el mejor rendimiento general con la huella instrumento más compacto.

El N8 horizonte es una herramienta poderosa tanto para la investigación para las instalaciones de gama alta y multi-usuario de la investigación de una variedad de nano-materiales de gráneles sólidos, a las fibras, superficies o muestras biológicas con SAXS, WAXS, y GISAXS.

Las tecnologías avanzadas para una alta calidad de los datos con el equipo de medición de corta.

Difractometro de Rayos X de Mesa BRUKER D2 PHASER:

NANOSTAR:

NANOSTAR con su incomparable modularidad es la herramienta ideal para la caracterización de las nano estructuras de 1 nm a treinta 125 nm, y los nanos estructurados por SAXS, GISAXS y Nanografía.

NANOSTAR analiza propiedades muestra pura, incluso para sistemas de muestreo no isotrópicos. El diseño modular permite configurar el detector a distancia de distancia desde 11.5 mm hasta 1070 mm. Hence, el rango completo de SAXS a WAXS se puede cubrir.

• Modular setup para mayor flexibilidade

• Brilliant X-ray sources: IμS, TXS and METALJET

• MONTEL óptica con sistema de colimación pinhole canjeables por alto flujo / alta resolución