Sistemas Analitícos de Rayos X
Técnica utilizada para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. Tiene una amplia gama de aplicaciones entre las que están cementos, medio ambiente, geología, catalizadores, petróleos entre otras.
Difracción de Rayos X
Una de las herramientas no-destructivas más importantes para analizar tanto líquidos como polvos y cristales. El XRD es un método indispensable en el campo de la cristalografía para caracterización de materiales y control de calidad.El catálogo de equipos Bruker de Difracción de Rayos X y Scattering permite el análisis detallado de cualquier material.
Fluorescencia de Rayos X
Técnica indispensable para realizar un análisis elemental y análisis químico de forma exacta y rápida, independientemente de que se deban analizar líquidos, sólidos o polvos sueltos. Entre sus aplicaciones se encuentran: Cementos, Medio Ambiente, Geología, Metales y Aleaciones, Minas, Papel, Petróleo, Catálisis, Mapeo, Investigación y Desarrollo.
Micro CT -Tomografía computarizada de rayos X
La microtomografía Bruker está disponible en una gama de instrumentos de escritorio fáciles de usar, que generan imágenes en 3D de la morfología de su muestra y de la microestructura interna con resolución hasta el nivel submicrónico.
Nano Analytics
La cartera de productos de Bruker Nano Analytics incluye una gama única de herramientas analíticas para la caracterización de materiales en microscopios electrónicos.