Sistemas Mecano-Ópticos

Microscopía de Fuerza Atómica

La Microscopía de fuerza atómica (AFM) es un método para medir la topografía de una superficie a escala micrométrica a nanométrica. Esta técnica también se ha ampliado para permitir la medición de muchas otras propiedades de la superficie.

Nanoindentación

Esta técnica se utliza para determinar las propiedades mecánicas de un material. La carga ejercida sobre la muestra y el desplazamiento se miden de manera continua con una resolución de micronewtons y nanómetros.